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光器件可靠性

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APD集成式老化系统

APD集成式老化系统

PSS APDBI13002

APD集成式老化系统用于光通信行业的APD、APD-TIA 、PIN、PIN-TIA 等TO器件可靠性评估和老化筛选，最多支持3072pcs的单次老化。该系统可以给予2mA的恒流、5V的恒压以及175℃高温老化条件，同时对器件的VBR、TIA电流进行实时监控，并自动进行产品失效判断。实时储存监控数据，支持对老化失效器件追溯，能够有效的提升TO生产的效率和可靠性，可以极大的提高器件测试的产量和质量。

APD恒流≤2mA,APD电压测量0~70V，TIA恒压≤5V,VPD电压≤20V，PD电流测量200uA ,最多支持3072pcs的单次老化

PSS APDBI13002

LD集成式老化系统

LD集成式老化系统

PSS LDBI13003

LD集成式老化系统，用于各种类型封装LD器件的老化筛选以及可靠性寿命分析。该系统可以顺利获得软件配置管脚定义并给予高达500mA的驱动电流以及150℃高温老化条件，同时对器件的驱动电流、背光电流以及阈值进行实时监控测试，并自动进行产品失效判断。实时储存监控数据，支持对老化失效器件的数据追述。最多支持3072pcs的单次老化。

LD驱动电流≤250mA，LD正向电压≤3V，PD反偏电压≤5V，PD监控电流≤2000uA，最多支持3072PCS的单次老化

PSS LDBI13003

EML集成式老化系统

EML集成式老化系统

PSS EMLBI11536/PSS EMLBI21536

k8com官网EML TO集成式老化测试系统用于EML TO器件的老化筛选以及可靠性寿命分析。系统支持最大1536路器件老化，顺利获得外部环境控温或对器件内部TEC进行高温控温，为LD器件给予恒定电流来实现对EML器件的老化，系统可实时显示老化电流、背光电流、正向电压、EA电流等参数并且图形直观显示，便于用于观察老化过程中的异常情况，通用老化板兼容我司EML TO盘测系统，显著提高测试效率和TO产品质量。

LD驱动电流≤250mA，SOA驱动电流≤250mA，PD反偏电压≤5V，LD正向电压≤5V，EA电压0~-5V，最多支持1536PCS单次老化

PSS EMLBI11536/PSS EMLBI21536

APD台式老化监控电源

APD台式老化监控电源

PSS APDBI-IV

k8com官网APD台式老化监控电源(PSS APDBI-IV)用于老化APD、APD-TIA 、PIN、PIN-TIA TO器件器件，提高器件的品质。该系统顺利获得给APD给予恒流、PIN给予反偏压，TIA 给予恒压来达到对器件工作老化。同时配合独立客供老化箱可控制器件工作环境温度，达到高温下工作老化的功能。在老化过程中，对器件的TIA工作电流以及APD 电压进行实时监控测试，并对测试数据进行记录，可对老化失效器件进行追述，单台独立老化64颗APD器件。

APD恒流≤2mA,APD电压测量0~70V，TIA恒压≤5V,VPD电压≤20V，PD电流测量200uA ,最多支持64pcs的单次老化，

PSS APDBI-IV

LD台式老化监控电源

LD台式老化监控电源

PSS ATLD-VI

硬件支持小电流和大电流两个档位，完美兼容VECSEL和FP/DFB激光器 64路老化板作为通用载体，可以实现盘测、老化不同工位直接的转料，提高生产效率

LD驱动电流≤250mA，LD正向电压≤3V，PD反偏电压≤5V，PD监控电流≤2000uA，支持64PCS的单次老化

PSS ATLD-VI

EML台式老化监控电源

EML台式老化监控电源

PSS ATEML-3201

k8com官网 EML 台式老化监控电源(PSS ATEML-3201)，用于 EML TO 器件的老化筛选以及可靠性寿命分析，筛选后有效提高 TO 产品的质量。单台系统可支持 32路器件的老化，顺利获得对器件内部 TEC 进行高温控温，给 EML 器件给予恒定电流来实现对 EML 器件的老化，系统可实时显示老化电流、背光电流、正向电压、EA电流等参数并且图形直观显示，便于用于观察老化过程中的异常情况，通用老化板兼容我司 EML TO 盘测系统。

LD驱动电流≤250mA，SOA驱动电流≤250mA，PD反偏电压≤5V，LD正向电压≤5V，EA电压0~-5V，最多支持32PCS单次老化

PSS ATEML-3201

老化板配件

老化板配件

定制

老化测试板用于TO的整盘老化、测试，以及自动分选。k8com官网老化测试板，可以兼容后端老化，测试，分选工艺，提高生产效率。

老化板主要放在APD,LD,EML集成老化箱或老化电源框体使用，作为装载器件的载体存在

定制

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